測(cè)試爐
1、產(chǎn)品介紹
測(cè)試爐適用于光學(xué)鏡片、電子產(chǎn)品、元器件、零部件及其材料在高溫恒溫環(huán)境下，進(jìn)行烘干老化，對(duì)工件加熱處理及一般的脫水干燥。
通過(guò)模擬不同的高溫環(huán)境，對(duì)光學(xué)鏡片在高溫條件下的光學(xué)性能、物理結(jié)構(gòu)變化等進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)，為鏡片的質(zhì)量評(píng)估、材料篩選及工藝優(yōu)化提供可靠的數(shù)據(jù)支持。該設(shè)備采用先進(jìn)的控溫技術(shù)與智能化控制系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)便、測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確，廣泛應(yīng)用于光學(xué)鏡片生產(chǎn)、研發(fā)及質(zhì)量檢測(cè)等領(lǐng)域。
2、核心性能
- 精準(zhǔn)溫控系統(tǒng)：采用進(jìn)口高精度溫度傳感器與先進(jìn)的PID溫控算法，溫度控制精度可達(dá)±0.5℃，控溫范圍覆蓋室溫至800℃，能夠滿足不同類型光學(xué)鏡片的測(cè)試溫度需求。爐內(nèi)溫度分布均勻，溫差小于±3℃，確保測(cè)試樣品各部位受熱均勻，提高測(cè)試結(jié)果的可靠性。
- 穩(wěn)定升溫降溫速率：升溫速率可在1-20℃/min范圍內(nèi)自由調(diào)節(jié)，降溫速率通過(guò)優(yōu)化的冷卻系統(tǒng)設(shè)計(jì)，最快可達(dá)15℃/min，能夠模擬鏡片在實(shí)際使用過(guò)程中的溫度變化曲線，真實(shí)反映鏡片的熱響應(yīng)特性。
- 全面測(cè)試功能：支持多種測(cè)試模式，包括恒溫測(cè)試、升降溫循環(huán)測(cè)試、階梯升溫測(cè)試等。可實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄測(cè)試過(guò)程中的溫度、時(shí)間及鏡片的光學(xué)參數(shù)變化（需配合相應(yīng)的光學(xué)檢測(cè)附件），自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，方便用戶進(jìn)行數(shù)據(jù)分析與追溯。
- 安全可靠設(shè)計(jì)：配備完善的安全保護(hù)系統(tǒng)，包括超溫報(bào)警、過(guò)流保護(hù)、開(kāi)門斷電保護(hù)等。爐體采用優(yōu)質(zhì)耐高溫材料制作，外殼采用冷軋鋼板噴塑處理，具有良好的隔熱性能與耐腐蝕性能，確保設(shè)備運(yùn)行安全穩(wěn)定，延長(zhǎng)設(shè)備使用壽命。
3、產(chǎn)品規(guī)格
| 設(shè)備型號(hào) | SFG-T | SFG-L | |
| 設(shè)備尺寸（mm）L*W*H | 625mm*450mm*500mm | 490mm*500mm*625mm | |
功率 | 500W-1050W | 750W-1050W | |
電壓和頻率（V/HZ） | 220V/50HZ | 220V/50HZ | |
| 溫差 | 0.1℃/±0.5℃ | 0.1℃/±0.5℃ | |
| 設(shè)備重量 | 20KG | 75KG |
本設(shè)備可根據(jù)不同的產(chǎn)品規(guī)格、產(chǎn)能設(shè)計(jì)開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)制造。
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